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305
円二色分散計/Chirascan CD *
403
冷間静水等方圧プレス機(CPA50-300) *
光電子顕微鏡システム/My PEEM AV318-A1 *
404
キャリア移動度測定装置/CMM-250TP *
Other rooms
2次イオン質量分析装置SIMS/PS02B11 *
安定同位体比質量分析システム/IsoPrime 100 *
超伝導核磁気共鳴装置/AVANCEⅢ600 *
地震探査データ解析システム *
ハーシェ型ガルバニ電池式酸素分析計 *
炭素材料水素吸蔵特性評価装置/J-232-P3-11-21 *
Ⅱ-102
ナノインデンター/OPX-UNHT *
ホール効果測定装置 *
卓上型放電プラズマ焼結機/SPS-211Lx *
表面エネルギー測定装置/iGC-SEA *
Ⅱ-201
磁気浮遊式吸着量測定装置/MSB-GS-100-10M *
Ⅱ-301(1)
膜抵抗測定システム+ｲﾝﾋﾟｰﾀﾞﾝｽｱﾅﾗｲｻﾞｰ/MTS740-C *
全自動X線回折システム/SmartLab 9kW AMK *
レーザ回析式粒子径分布測定装置/SALD-2300 *
走査型プローブ顕微鏡/SPM-9700 *
高性能比表面積・細孔分布測定装置/3Flex *
示差走査熱量計/DSC204 *
ﾏﾄﾘｸｽ支援ﾚｰｻﾞｰ脱離ｲｵﾝ化飛行時間型質量分析装置 *
コールドスプレーイオン源搭載TOF-MSシステム/JMS-T100LP *
Ⅱ-301(3)
高速ラマンイメージング分光分析システム/iｎVia Raman Microscope *
酸素・窒素・水素分析装置/EMGA-930-SKU *
電界放出形走査電子顕微鏡SEM *
冷却断面加工装置 *
3D測定レーザー顕微鏡/OLS4000-SAT *
高圧ガス吸着量測定装置/BELSORP-HP-1-MS *
TG-DSC同時測定装置＋発生ガス分析システム/STA 449F3 Jupiter + STA-QMS/GC *
３元スパッタリング成膜装置/TS-DC・RF303 *
分光蛍光光度計/RF-5300PC *
紫外可視近赤外吸収分光光度計/UV-3600 *
フーリエ変換赤外分光光度計/IRPrestige-21＋赤外顕微鏡/AIM-8800 *
一軸加圧電気炉/MHP16-7520 *
赤外顕微鏡/Nicolet iN10 MX *
ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ *
ユニバーサル共通有機実験室/Common Organic L
- how to use *
Organic Hood (No.1) *
Organic Hood (No.2) *
Hood Bench (No.3) *
Hood Bench (No.4) *
Hood Bench (No.5) *
Bench (No.6) *
Bench (No.7) *
Hood Bench (No.8-1) *
Hood Bench (No.8-2) *
Hood Bench (No.8-3) *
Hood Bench (No.8-4) *
Organic Hood (No.9) *
Acid/Base Hood (No.10) *
恒温型熱機械分析装置/TMA4000SE *
遊星型ボールミル/Premium Line P-7 *
3D測定レーザー顕微鏡/OLS4000-SAT [ Ⅱ-301(3) ]