機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2018/07/27 10:00 |
終了時刻: | 2018/07/27 13:00 |
所要時間: | 3 時間 |
予約者: | Hackho Kim (hackho_kim) |
教員名: | |
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使用記録: (測定条件等): |
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所属部門: | 光エネルギー変換分子デバイス|Molecular Photoconversion Devices |
最終更新: | 15:56:22 - Thursday 26 July 2018 |
tel: | 6716 |