| 機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
| 開始時刻: | 2018/07/23 17:30 |
| 終了時刻: | 2018/07/24 00:00 |
| 所要時間: | 6.5 時間 |
| 予約者: | 高垣 敦 (atsushi_takagaki) |
| 教員名: | |
| Eメールアドレス: | |
| TEL: | |
| 使用記録: (測定条件等): |
Maintenance due to leakage of air compressor. |
| 所属部門: | 光エネルギー変換分子デバイス|Molecular Photoconversion Devices |
| 最終更新: | 12:27:53 - Monday 23 July 2018 |
| tel: | 6711 |