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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2017/11/01 00:00
終了時刻: 2017/11/02 00:00
所要時間: 1 日
予約者: 青木 美佳 (mika_aoki)
教員名:
Eメールアドレス:
TEL:
使用記録:
(測定条件等):
高分子膜、角度分解測定
所属部門: 光エネルギー変換分子デバイス|Molecular Photoconversion Devices
最終更新: 21:26:06 - Sunday 08 October 2017
tel: 内線2880、080-6435-3629(青木美佳)