機器: | Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ |
開始時刻: | 2017/11/01 00:00 |
終了時刻: | 2017/11/02 00:00 |
所要時間: | 1 日 |
予約者: | 青木 美佳 (mika_aoki) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
高分子膜、角度分解測定 |
所属部門: | 光エネルギー変換分子デバイス|Molecular Photoconversion Devices |
最終更新: | 21:26:06 - Sunday 08 October 2017 |
tel: | 内線2880、080-6435-3629(青木美佳) |