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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2017/06/21 00:00
終了時刻: 2017/06/22 00:00
所要時間: 1 日
予約者: Daniel Orejon (daniel_orejon)
教員名:
Eメールアドレス:
TEL:
使用記録:
(測定条件等):
DaniOrejon@XPS
所属部門: 熱科学|Thermal Science and Engineering
最終更新: 12:28:06 - Thursday 01 June 2017
tel: 080-9106-3661