機器: | Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ |
開始時刻: | 2017/06/29 00:00 |
終了時刻: | 2017/06/30 00:00 |
所要時間: | 1 日 |
予約者: | Daniel Orejon (daniel_orejon) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
DaniOrejon |
所属部門: | 熱科学|Thermal Science and Engineering |
最終更新: | 18:03:15 - Tuesday 23 May 2017 |
tel: | 3905 |