機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2020/12/17 22:00 |
終了時刻: | 2020/12/17 23:00 |
所要時間: | 1 時間 |
予約者: | 野口 朋寛 (tomohiro_noguchi) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
Cu-Ni, Cu-Ru |
所属部門: | 物質変換科学ユニット|Advanced Energy Materials |
最終更新: | 16:14:41 - Thursday 17 December 2020 |
tel: | 6873 |