機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2020/11/10 11:00 |
終了時刻: | 2020/11/10 14:00 |
所要時間: | 3 時間 |
予約者: | Kim Hackho (hackho_kim) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
|
所属部門: | 国際産学連携ハブ|Platform for Societal Implementation and Industrial Collaboration |
最終更新: | 09:55:09 - Tuesday 10 November 2020 |
tel: | 6716 |