機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2020/10/27 14:00 |
終了時刻: | 2020/10/27 16:30 |
所要時間: | 2.5 時間 |
予約者: | 赤井 翔 (sho_akai) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
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所属部門: | 物質変換科学ユニット|Advanced Energy Materials |
最終更新: | 14:47:18 - Monday 26 October 2020 |
tel: | 6873 |