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機器: Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM)
開始時刻: 2020/09/30 12:00
終了時刻: 2020/09/30 14:00
所要時間: 2 時間
予約者: Kim Hackho (hackho_kim)
教員名: Kim Hackho
Eメールアドレス: Kim.hackho.563@m.kyushu-u.ac.jp
TEL: (092) 802-6707
使用記録:
(測定条件等):
所属部門: 国際産学連携ハブ|Platform for Societal Implementation and Industrial Collaboration
最終更新: 11:21:02 - Wednesday 30 September 2020
tel: 6716
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