| 機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
| 開始時刻: | 2020/09/29 17:30 |
| 終了時刻: | 2020/09/29 18:00 |
| 所要時間: | 30 分 |
| 予約者: | Kim Hackho (hackho_kim) |
| 教員名: | |
| Eメールアドレス: | |
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| 使用記録: (測定条件等): |
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| 所属部門: | 国際産学連携ハブ|Platform for Societal Implementation and Industrial Collaboration |
| 最終更新: | 17:16:04 - Tuesday 29 September 2020 |
| tel: | 6716 |