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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2020/02/06 00:00
終了時刻: 2020/02/06 23:55
所要時間: 23.917 時間
予約者: 赤井 翔 (sho_akai)
教員名: 山内 美穂
Eメールアドレス: akai.sho.646@s.kyushu-u.ac.jp
TEL: 6873
使用記録:
(測定条件等):
所属部門: 触媒的物質変換|Catalytic Materials Transformations
最終更新: 17:08:10 - Thursday 23 January 2020
tel: 6873