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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2020/01/25 00:00
終了時刻: 2020/01/26 00:00
所要時間: 1 日
予約者: 安藤 達也 (tatsuya_ando)
教員名:
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TEL:
使用記録:
(測定条件等):
所属部門: 触媒的物質変換|Catalytic Materials Transformations
最終更新: 16:29:12 - Wednesday 04 December 2019
tel: 2824