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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2020/01/18 00:00
終了時刻: 2020/01/20 00:00
所要時間: 2 日
予約者: 赤井 翔 (sho_akai)
教員名:
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TEL:
使用記録:
(測定条件等):
所属部門: 触媒的物質変換|Catalytic Materials Transformations
最終更新: 15:40:25 - Wednesday 27 November 2019
tel: 6873