機器: | Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ |
開始時刻: | 2020/01/07 00:00 |
終了時刻: | 2020/01/08 00:00 |
所要時間: | 1 日 |
予約者: | 大谷部 嶺志 (takashi_Oyabe) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
RyFe |
所属部門: | 触媒的物質変換|Catalytic Materials Transformations |
最終更新: | 16:27:41 - Saturday 23 November 2019 |
tel: | 6873 |