| 機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
| 開始時刻: | 2019/07/02 18:00 |
| 終了時刻: | 2019/07/03 00:00 |
| 所要時間: | 6 時間 |
| 予約者: | 大谷部 嶺志 (takashi_oyabe) |
| 教員名: | |
| Eメールアドレス: | |
| TEL: | |
| 使用記録: (測定条件等): |
Ti mesh |
| 所属部門: | 触媒的物質変換|Catalytic Materials Transformations |
| 最終更新: | 19:39:18 - Thursday 27 June 2019 |
| tel: | 6873 |