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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2019/05/06 00:00
終了時刻: 2019/05/08 00:00
所要時間: 2 日
予約者: 寺山 友規 (yuki_terayama)
教員名:
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TEL:
使用記録:
(測定条件等):
Arクラスターイオンビームを使用希望
所属部門: 光エネルギー変換分子デバイス|Molecular Photoconversion Devices
最終更新: 09:54:54 - Friday 29 March 2019
tel: 092-802-2769