機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2019/02/15 14:30 |
終了時刻: | 2019/02/15 17:30 |
所要時間: | 3 時間 |
予約者: | Hackho Kim (hackho_kim) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
Si@NMC |
所属部門: | 光エネルギー変換分子デバイス|Molecular Photoconversion Devices |
最終更新: | 14:00:02 - Friday 15 February 2019 |
tel: | 6716 |