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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2019/02/23 00:00
終了時刻: 2019/02/25 00:00
所要時間: 2 日
予約者: 北野 翔 (syo_kitano)
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TEL:
使用記録:
(測定条件等):
所属部門: 触媒的物質変換|Catalytic Materials Transformations
最終更新: 09:29:03 - Wednesday 05 December 2018
tel: 6873