| 機器: | Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ |
| 開始時刻: | 2018/12/18 00:00 |
| 終了時刻: | 2018/12/20 00:00 |
| 所要時間: | 2 日 |
| 予約者: | 寺山 友規 (yuki_terayama) |
| 教員名: | |
| Eメールアドレス: | |
| TEL: | |
| 使用記録: (測定条件等): |
マッピング 試料：表面修飾チタン基板 |
| 所属部門: | 光エネルギー変換分子デバイス|Molecular Photoconversion Devices |
| 最終更新: | 09:47:19 - Friday 16 November 2018 |
| tel: | 寺山友規、特任助教、工学研究院化学工学部門 兼 I2CNER構成員 092-802-2769 |