| 機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
| 開始時刻: | 2018/11/13 10:00 |
| 終了時刻: | 2018/11/13 14:00 |
| 所要時間: | 4 時間 |
| 予約者: | Daniel Orejon (daniel_orejon) |
| 教員名: | |
| Eメールアドレス: | |
| TEL: | |
| 使用記録: (測定条件等): |
Orejon XPS |
| 所属部門: | 熱科学|Thermal Science and Engineering |
| 最終更新: | 10:35:53 - Friday 26 October 2018 |
| tel: | 3905 |