機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2018/10/30 09:00 |
終了時刻: | 2018/10/30 12:00 |
所要時間: | 3 時間 |
予約者: | 生田 竜也 (tatsuya_ikuta) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
|
所属部門: | 熱科学|Thermal Science and Engineering |
最終更新: | 16:15:17 - Thursday 25 October 2018 |
tel: | 3016 |