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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2018/11/05 08:00
終了時刻: 2018/11/05 14:00
所要時間: 6 時間
予約者: Daniel Orejon (daniel_orejon)
教員名:
Eメールアドレス:
TEL:
使用記録:
(測定条件等):
XPS
所属部門: 熱科学|Thermal Science and Engineering
最終更新: 11:25:50 - Thursday 25 October 2018
tel: 3905