機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2019/11/27 15:00 |
終了時刻: | 2019/11/27 18:00 |
所要時間: | 3 時間 |
予約者: | 細井 鈴子 (suzuko_hosoi) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
試験片成分分析 |
所属部門: | 水素適合材料|Hydrogen Materials Compatibility |
最終更新: | 15:52:06 - Friday 22 November 2019 |
tel: | 080-3161-7567 |