キャリア移動度測定装置/CMM-250TP [ 404 ]
機器の詳細情報
機器情報 |
メーカー名: 分光計器㈱/Bunkoukeiki Co.,Ltd. 性能: Use for electron and hole mobility/life time measurement of organic semiconductors, DSSCs, organic thin-film voltaics, etc. [Specifications] ●Range of measurable mobility :10-6~ 10-3 cm2/V・s ●Range of film thickness : 0.1~μm ●Resolution capability of measurement time : ~10ns ●Light source : YAG laser 設置場所: 404, I2CNER BuildingⅠ その他: |
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機器の管理者 | motonori_watanabe |
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Assoc. Prof. Motonori Watanabe Ext. 90-6748 (Ito Campus)
mwata@i2cner.kyushu-u.ac.jp
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