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走査型プローブ顕微鏡/SPM-9700 [ 403 ]

機器の詳細情報

機器管理
機器情報 メーカー名:
㈱島津製作所/SHIMADZU

性能:
Scanning probe microscope (SPM) is a generic term for microscopes that scan sample surfaces with an extremely sharp probe to observe their three-dimensional image or local properties at high magnifications. The SPM-9700 offers higher performance, faster speeds, and easier operation.

[Specifications]

Observation Modes : Contact, Dynamic, Phase, Lateral Force (LFM), Force Modulation, Surface Potential (KFM)

Resolution : X, Y: 0.2 nm, Z: 0.01 nm

SPM Head : Displacement detection system : Light source/optical lever/detector
Light source : Laser diode (ON/OFF) Irradiates cantilever continuously, even while replacing samples.
Detector : Photodetector

Accessories : Environment Controlled Chamber CH-III
Temperature and Humidity Controller
Sample Heating and Cooling Unit


設置場所:
403, I2CNER BuildingⅠ

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サポート情報 営業担当者等:
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Dr. Harish Sivasankaran Ext. 90-6730 (Ito Campus)
harish@i2cner.kyushu-u.ac.jp
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時間:06/10(日) 06/11(月) 06/12(火) 06/13(水) 06/14(木) 06/15(金) 06/16(土)
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