| 機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
| 開始時刻: | 2019/06/19 14:00 |
| 終了時刻: | 2019/06/19 18:00 |
| 所要時間: | 4 時間 |
| 予約者: | Frantisek Miksik (frantisek_miksik) |
| 教員名: | |
| Eメールアドレス: | |
| TEL: | |
| 使用記録: (測定条件等): |
SiO2 |
| 所属部門: | 熱科学|Thermal Science and Engineering |
| 最終更新: | 14:35:58 - Thursday 13 June 2019 |
| tel: | 7269 |