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機器: Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ
開始時刻: 2019/05/13 00:00
終了時刻: 2019/05/15 00:00
所要時間: 2 日
予約者: 森本 達美 (tatsuyoshi_morimoto)
教員名: 山内 美穂 (Miho Yamauchi)
Eメールアドレス: 2SC18112K@s.kyushu-u.ac.jp
TEL: 092-802-6873
使用記録:
(測定条件等):
XPS
所属部門: 触媒的物質変換|Catalytic Materials Transformations
最終更新: 12:59:12 - Thursday 14 March 2019
tel: 6873