機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2019/01/28 16:30 |
終了時刻: | 2019/01/28 17:00 |
所要時間: | 30 分 |
予約者: | Frantisek Miksik (frantisek_miksik) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
data analysis |
所属部門: | 熱科学|Thermal Science and Engineering |
最終更新: | 16:19:04 - Monday 28 January 2019 |
tel: | 7269 |