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機器: Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM)
開始時刻: 2018/11/06 10:00
終了時刻: 2018/11/06 13:00
所要時間: 3 時間
予約者: Daniel Orejon (daniel_orejon)
教員名: 高田 保之
Eメールアドレス: d.orejon@ed.ac.jp
TEL: 092-080-3095
使用記録:
(測定条件等):
Dani & Harish
所属部門: 熱科学|Thermal Science and Engineering
最終更新: 16:52:33 - Monday 05 November 2018
tel: 3905
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