機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2018/10/23 07:00 |
終了時刻: | 2018/10/23 22:00 |
所要時間: | 15 時間 |
予約者: | Daniel Orejon (daniel_orejon) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
Dani Orejon Sorry VIncent, but I need to combine XPS and EDS measurements. |
所属部門: | 熱科学|Thermal Science and Engineering |
最終更新: | 13:40:08 - Friday 05 October 2018 |
tel: | 3905 |