機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
開始時刻: | 2018/09/04 13:30 |
終了時刻: | 2018/09/04 18:00 |
所要時間: | 4.5 時間 |
予約者: | 生田 竜也 (tatsuya_ikuta) |
教員名: | |
Eメールアドレス: | |
TEL: | |
使用記録: (測定条件等): |
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所属部門: | 熱科学|Thermal Science and Engineering |
最終更新: | 17:21:09 - Friday 24 August 2018 |
tel: | 3016(Ito) |