| 機器: | Ⅱ-301(3) - ArクラスターイオンビームXPS/PHI5000VersaProbeⅡ|Ar Cluster Ion Beam XPS/PHI5000VersaProbeⅡ |
| 開始時刻: | 2020/08/03 09:30 |
| 終了時刻: | 2020/08/03 18:00 |
| 所要時間: | 8.5 時間 |
| 予約者: | 赤井 翔 (sho_akai) |
| 教員名: | |
| Eメールアドレス: | |
| TEL: | |
| 使用記録: (測定条件等): |
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| 所属部門: | 触媒的物質変換|Catalytic Materials Transformations |
| 最終更新: | 15:25:37 - Sunday 19 July 2020 |
| tel: | 6873 |