English 日本語

予約画面
ログイン

走査型プローブ顕微鏡/SPM-9700 [ 403 ]

機器の詳細情報

機器管理
機器情報 メーカー名:
㈱島津製作所/SHIMADZU

性能:
Scanning probe microscope (SPM) is a generic term for microscopes that scan sample surfaces with an extremely sharp probe to observe their three-dimensional image or local properties at high magnifications. The SPM-9700 offers higher performance, faster speeds, and easier operation.

[Specifications]

Observation Modes : Contact, Dynamic, Phase, Lateral Force (LFM), Force Modulation, Surface Potential (KFM)

Resolution : X, Y: 0.2 nm, Z: 0.01 nm

SPM Head : Displacement detection system : Light source/optical lever/detector
Light source : Laser diode (ON/OFF) Irradiates cantilever continuously, even while replacing samples.
Detector : Photodetector

Accessories : Environment Controlled Chamber CH-III
Temperature and Humidity Controller
Sample Heating and Cooling Unit


設置場所:
403, I2CNER BuildingⅠ

その他:
[Contact]
Dr. Harish Sivasankaran Ext. 90-6730 (Ito Campus)
harish@i2cner.kyushu-u.ac.jp

Administrative office (Miho Fujimoto) Ext. 90-7445
i2cner_lab@i2cner.kyushu-u.ac.jp
関連資料をダウンロードするためにはログインする必要があります。
サポート情報 営業担当者等:
関連資料をダウンロードするためにはログインする必要があります。
機器の管理者

機器の掲示板(今月のお知らせ)

過去のお知らせ新しいお知らせを追加

お知らせはありません。

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
 
 
 
 
光エネルギー変換分子デバイス
水素適合材料
電気化学エネルギー変換
熱科学
触媒的物質変換
CO2分離・転換
CO2貯留
エネルギーアナリシス研究部門
NEXT-RP
支援部門