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全自動X線回折システム/SmartLab 9kW AMK [ 201 ]

機器の詳細情報

機器情報 メーカー名:
㈱リガク/Rigaku corporation

性能:
This high-resolution automated X-ray diffraction system ( SmartLab ) can be used for nanoscale characterizations of various kinds of materials, including metals, semiconductors, ceramics, organic materials, and polymers. SmartLab allows us to perform advanced measurements critical to materials research from X-ray diffraction (XRD) to X-ray reflectivity (XRR) to small-angle X-ray scattering (SAXS).
[Specifications]
●X-ray Target : Cu target
●Goniometer : Sample flat goniometer
●Goniometer movement range : 2θ: -3°~ 160°, 2θx: -3°~ 120°, x: -5°~95°, φ: -5°~95°, φ: -360°~360°
●Detector : Scintillatiometer, 2D semiconductor
●Incident optical devices : Multilayer mirror


設置場所:
201 at I2CNER buildingⅠ

その他:
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サポート情報 営業担当者等:
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機器の管理者 masaaki_sadakiyo

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[Contact]
Dr. Masaaki Sadakiyo Ext. 90-6686
sadakiyo@i2cner.kyushu-u.ac.jp
Dr. George Harrington Ext. 6736
harrington.frederick.george.302@m.kyushu-u.ac.jp

XRD新規ユーザーはX線登録が必要です。
手続きに関しては、支援部門"wpisomu@jimu.kyushu-u.ac.jp"(担当:天野)にお問い合わせ下さい。
Any NEW user of XRD, needs to be registered as RI user.
For the detail, please contact to Administrative Office (Amano) "wpisomu@jimu.kyushu-u.ac.jp".
 
 
 
 
 
 
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