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全自動X線回折システム/SmartLab 9kW AMK [ 201 ]

機器の詳細情報

機器情報 メーカー名:
㈱リガク/Rigaku corporation

性能:
This high-resolution automated X-ray diffraction system ( SmartLab ) can be used for nanoscale characterizations of various kinds of materials, including metals, semiconductors, ceramics, organic materials, and polymers. SmartLab allows us to perform advanced measurements critical to materials research from X-ray diffraction (XRD) to X-ray reflectivity (XRR) to small-angle X-ray scattering (SAXS).
[Specifications]
●X-ray Target : Cu target
●Goniometer : Sample flat goniometer
●Goniometer movement range : 2θ: -3°~ 160°, 2θx: -3°~ 120°, x: -5°~95°, φ: -5°~95°, φ: -360°~360°
●Detector : Scintillatiometer, 2D semiconductor
●Incident optical devices : Multilayer mirror


設置場所:
201, I2CNER BuildingⅠ

その他:
[Contact]
Dr. Masaaki Sadakiyo Ext. 90-6686 ( Ito Campus )
sadakiyo@i2cner.kyushu-u.ac.jp

Administrative office (Miho Fujimoto) Ext. 90-7445
i2cner_lab@i2cner.kyushu-u.ac.jp
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サポート情報 営業担当者等:
関連資料をダウンロードするためにはログインする必要があります。
機器の管理者 masaaki_sadakiyo

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