| 機器: | Ⅱ-301(3) - 電界放出形走査電子顕微鏡SEM|Scanning Electron Microscope(SEM) |
| 開始時刻: | 2018/05/10 00:00 |
| 終了時刻: | 2018/05/12 00:00 |
| 所要時間: | 2 日 |
| 予約者: | Miho Fujimoto (i2cner) |
| 教員名: | |
| Eメールアドレス: | i2cner_lab@i2cner.kyushu-u.ac.jp |
| TEL: | 90-7445 |
| 使用記録: (測定条件等): |
Lecture |
| 所属部門: | 支援部門|Administrative office |
| 最終更新: | 09:12:51 - Tuesday 08 May 2018 |
| tel: | 7445 |